BC3193半導體分立器件測試系統

測試系統用途及主要測試對象：二極管，三極管，可控硅，場效應管，（IGBT）絕緣柵雙極三極管，達林頓矩陣，單結晶體管，光敏二極管，光敏三極管，光電耦合器，固態繼電器等，DC/DC模塊參數測試儀，MOS測試儀，三極管開關時間測試儀。

二極管及整流橋：VR、IR、VF、VZ、HVZ、動態阻抗。
　　三極管：BVCBO、BVCEO、BVCER、BVCES、BVEBO、ICBO、ICEO、ICER、ICES、IEBO、VCES、VBES、HFE。
　　可控硅：IGT、IH、IL、VGT、VON、BVAKF、BVAKR、BVAKO、IAKF、IAKR。
　　場效應管：BVDSS、BVDSR、BVDSO、BVDGO、BVGSO、BVGSS、IDSS、IDSO、IGDO、IGSO、IDSR、VGS、VDS、VTH、gm。
　　達林頓管：VCESAT、ICEO.R.S、IEBO、HFE、VBESAT、BVCEO. IGBT、BVCGR、BVGES、TGES、VCEST、VGETH。
　　光電耦合器：VF、IR、BVR、BVCEO、ICEO、CTR、VCESAT。

* 測試系統可對器件測試結果進行存儲和打印。

* 測試原理符合相應的國家標準，國家jy標準和行業標準。
* 采用脈沖法測試功率參數，符合國家jy標準并有效的抑制測試溫生。
* 采用Kelvin測試原理，排除線路電阻及接觸電壓，使大電流的參數測試更準。