冷熱沖擊試驗箱 　　　一、用途 　　用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業，國防工業、航天、兵工業、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具. 二、滿足標準 　　國家標準GJB150.3-86；國家標準GJB150.4-86；國家標準GJB150.5-86； 　　GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規程試驗A:低溫試驗方法 　　GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規程試驗B:高溫試驗方法 　　 　　控制方式與特色︰ 　　利用低溫及高溫蓄冷熱儲存槽，依動作需要打開DAPER，達到快速沖擊效果；平衡調溫控制系統(BTC)，以P.I.D.方式控制SSR，使系統之加熱量等于熱損耗量，故能長期穩定使用。 　　技術參數： 　　1、 溫度范圍：-40℃～+150℃、-55℃～+150℃、、-65℃～+150℃ 　　2、 溫度上限：200℃ 　　3、 溫度下限：-60℃ 　　4、 溫度偏差：±2℃ 　　5、 溫度波動度：±0.5℃ 　　6、 溫度恢復時間：5min 　　7、 溫度恢復條件：高溫+150℃保溫≥30min，低溫-60℃保溫≥30min，試品重量在規定范圍內 　　8、 試品轉移時間：≤15秒 　　9、 試品轉移方式：采用氣動 　　10、試品重量：≤3kg 　　11、高溫室升溫時間：30min (+25℃～+100℃) 　　12、低溫室降溫時間：60min (+25℃～-55℃) 　　13、噪音：（dB）≤65 　　14、電源：AC380V/50Hz+保護接地 　　15、總功率：20KW