儀器簡介:
DMI 5000M是徠卡公司繼MEF4A型倒置金相顯微鏡之后于2005年推出的又一款大型研究級
自動倒置顯微鏡, 光學設計上采用先進的 HC無限遠軸向、徑向雙重色差校正光學技術,cdxc雜散光等干擾因素;
在整個光學系統內, 對涉及成像質量的所有組件(物鏡、鏡筒透鏡、目鏡筒、
目鏡、照相接口等) 進行{zy}化組合,實現圖像分辨率和反差的{zy}化,
得到銳利圖像的同時追求{zg}分辨率。
DMI 5000M適用于鋼鐵,金屬, 化工材料行業科研, 質檢, 質控
反射光可實現明場, 暗場, 偏光, 微分干涉, 熒光觀察功能
透射光可實現明場, 暗場,偏光, 微分干涉觀察功能
可接干涉臺階儀進行高精度測量
可接大尺寸物臺用于半導體檢測
可接CCD相機配合圖像fxrj進行材料分析
可升級為其他觀察方法