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日本日置HIOKI阻抗分析儀IM3570

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阻抗分析儀IM3570技術(shù)參數(shù) 測(cè)量模式 LCR模式：?jiǎn)我粭l件下測(cè)量分析儀模式：根據(jù)測(cè)量頻率、測(cè)量電平進(jìn)行掃描 (測(cè)量點(diǎn)：1～801，掃描方法：一般掃描/分區(qū)掃描，顯示：列表顯示/圖表顯示) 連續(xù)測(cè)量模式：連續(xù)測(cè)量保存的條件(最多32個(gè)) 測(cè)量參數(shù) Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流電阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q 測(cè)量量程 100mΩ～100MΩ，12檔量程(所有參數(shù)都根據(jù)Z來(lái)確定) 基本精度 Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° 測(cè)量頻率 4Hz～5MHz(10mHz～100Hz步進(jìn)) 測(cè)量信號(hào)電平普通模式： V模式、CV模式：5mV～5Vrms(1MHz以下)， 10mV～1Vrms(1MHz～5MHz)，1mVrms步進(jìn) CC模式：10μA～50mArms(1MHz以下) 10μA～10mArms(1MHz～5MHz)，10μArms步進(jìn) 低阻抗高精度模式： V模式、CV模式：5mV～1Vrms(100kHz以下)， 1mVrms步進(jìn) CC模式：10μA～100mArms(100kHz以下的100mΩ和1Ω量程)， 10μArms步進(jìn) 輸出阻抗普通模式：100Ω 低阻抗高精度模式：10Ω 顯示彩色TFT5.7英寸，可設(shè)置顯示開(kāi)或關(guān) 顯示位數(shù)設(shè)置可設(shè)置3～7位的顯示位數(shù)，初始值為6位測(cè)量時(shí)間 0.5ms(100kHz、FAST、顯示關(guān)，代表值) 測(cè)量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2 DC偏壓測(cè)量普通模式：DC0V～2.50V(10mV步進(jìn)) 低阻抗高精度模式：DC0V～1.00V(10mV步進(jìn)) 直流電阻測(cè)量普通模式：測(cè)量信號(hào)電平 DC100mV～2.5V(10mV步進(jìn)) 低阻抗高精度模式：測(cè)量信號(hào)電平 DC100mV～1.00V(10mV步進(jìn)) 比較器 LCR模式：第1、第3項(xiàng)目的Hi/IN/Lo 分析模式：區(qū)域判斷(各點(diǎn)的Hi/IN/Lo)、峰值判斷(極大、極小的頻率和{jd1}值的Hi/IN/Lo) 存儲(chǔ)功能主機(jī)可保存32000個(gè)數(shù)據(jù) 接口 EXT I/O(hler) RS-232C GP-IB USB(Hi-Speed/Full-Speed)

鄭重聲明：產(chǎn)品【日本日置HIOKI阻抗分析儀IM3570】由北京中儀友信科技有限公司發(fā)布，版權(quán)歸原作者及其所在單位，其原創(chuàng)性以及文中陳述文字和內(nèi)容未經(jīng)(企業(yè)庫(kù)www.zgmflm.cn)證實(shí)，請(qǐng)讀者僅作參考，并請(qǐng)自行核實(shí)相關(guān)內(nèi)容。若本文有侵犯到您的版權(quán)，請(qǐng)你提供相關(guān)證明及申請(qǐng)并與我們聯(lián)系（qiyeku # qq.com）或【在線投訴】，我們審核后將會(huì)盡快處理。
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