深圳市西凡謹頓科技有限公司致力于黃金、鉑金等貴金屬的解決方案，專業生產了各種型號的光譜測金儀，力求做到，無損、jq。多年來在珠寶首飾行業內受到廣大用戶的喜愛，銷售額逐年增加，我們的目標是為你量身定做一套解決黃金首飾的方案，期待與你的合作。 聯系人： 曾祥芬 電話：13418624495 QQ：1870554064 分析范圍：1%～99.99% 測量時間：自適應 30～200秒 測量精度：±0.1% 測試環境：常溫常態 可分析元素：金(Au)，銀(Ag)，鉑(Pt)，鈀(Pd), 銅(Cu)，銠(Rh)，釕(Ru)，鋅(Zn)，鎳(Ni)，鎘(Cd)，根據元素能量表可觀察以上出各元素的圖譜。 X射線源：X射線光管（風冷無輻射） 測量點尺寸：1～2mm 高壓器：4～50Kv 分析：多通道模擬 電壓：100～127或200～240V，50/60 Hz 尺寸：500*500 *350 mm（{zd0}處） 重量：40kg 操作系統：Windows2000/XP 鍍層測量： 鍍層厚度范圍<30μm {zd0}測量層數：5層 測量精度：0.03μm 儀器配置： X光管 正比計數探測器 高壓電源 放大電路 攝像定位系統