深圳市西凡謹頓科技有限公司致力于黃金、鉑金等貴金屬的解決方案，專業生產了各種型號的光譜測金儀，力求做到，無損、jq。多年來在珠寶首飾行業內受到廣大用戶的喜愛，銷售額逐年增加，我們的目標是為你量身定做一套解決黃金首飾的方案，期待與你的合作。 聯系人：黃永強 13926523673 QQ：912102707 技術指標： 分析范圍：0.001%～99.999% 測量時間：自適應 測量精度： ± 0.001%--0.1% 分辨率 ：120-170eV at Mn K-aipha 測試環境：常溫常態 分析元素：除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測試外，該型號還能對從AL至U的所有元素進行分析，實為貴金屬行業常量分析中的實驗室級光譜儀。 X射線源：X射線光管 高壓器：4～80Kv 分析：多通道模擬 操作系統:Windows2000/Me/XP 鍍層測量： 鍍層厚度范圍<30μm 可測量元素種類：金Au 、銀Ag 、鉑Pt 、鈀Pd、銠Rh 、釕Ru 、銅Cu 、鋅Zn 、鎳Ni 、鎘Cd、銦In另外對銥Ir,鋨OS等70多種元素。 {zd0}測量層數：5層 測量精度：0.03μm