技術數據表 MINITEST740主機用SIDSP探頭 探頭 特性 F1.5，N0.7，FN1.5 F2 F5，N2.5，FN5 F15 F N F F N F 測量范圍 0－1.5mm 0－0.7mm 0－2mm 0－5mm 0－2.5mm 0－15mm 使用范圍 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 粗糙表面 標準探頭，使用廣泛 厚涂層 測量原理 磁感應 電渦流 磁感應 磁感應 電渦流 磁感應 信號處理 探頭內部32位信號處理（SIDSP） jq度 ±（1μm+0.75%讀值） ±（1.5μm+0.75%讀值） ±（5μm+0.75%讀值） 重復性 ±（0.5μm+0.5%讀值） ±（0.8μm+0.5%讀值） ±（2.5μm+0.5%讀值） 低端分辨率 0.05μm 0.1μm 1μm 最小曲率半徑（凸） 1.0mm 1.5mm 5mm 最小曲率半徑（凹，外置探頭） 7.5mm 10mm 25mm 最小曲率半徑（凹，內置探頭） 30mm 30mm 30mm 最小測量面積 Φ5mm Φ10mm Φ25mm 最小基體厚度 0.3mm 40μm 0.5mm 0.5mm 40μm 1mm 連續模式下測量速度 每秒20個讀數 單值模式下{zd0}測量速度 每分鐘70個讀數 主機 型號 特性 MINITEST 720 MINITEST 730 MINITEST 740 探頭類型 內置探頭 外置探頭 內置外置可換