技術指標： 分析范圍：10%～99.99% 測量時間：自適應 30～200秒 測量精度：±0.1% 測試環境：常溫常態 可分析元素：金(Au)，銀(Ag)，鉑(Pt)，鈀(Pd), 銅(Cu)，銠(Rh)，釕(Ru)，鋅(Zn)，鎳(Ni)，鎘(Cd)，銦（Ln）. X射線源：X射線光管（風冷無輻射） 測量點尺寸：1～2mm 電壓：交流220V/50Hz 尺寸：500*500*350 mm（{zd0}處） 重量：40kg 操作系統：Windows2000/XP 鍍層測量： 鍍層厚度范圍<30μm {zd0}測量層數：5層 測量精度：0.03μm 儀器配置： X光管 正比計數探測器 高壓電源 放大電路 液晶顯示屏幕 攝像定位系統 產品特點： 1）儀器xjb高 承諾，本公司各款測金儀價格，{jd1}低于市場上任何一款同類產品的價格。本產品采用先進技術成果，提高了性能，節省了成本。 2）測量元素全面，涵蓋貴金屬行業補口數據庫 能夠測量：金Au（包括K金），鉑金Pt，白銀Ag，鈀金Pd，銠Rh，銅Cu，鋅Zn，鎳Ni，鎢W,銦Ln等金屬元素。XRF軟件針對貴金屬企業解決貴金屬jq含量分析問題。 3）快速定性定量判斷 1～3秒可以對首飾做定性判斷，30秒檢測出jq結果。{zg}jq度可以達到0.1%，風冷散熱循環系統，穩定，重現指標高。 4）率先將先進的攝像定位技術引入珠寶檢測領域 該攝像定位系統除讓首飾檢測更加直觀、X熒光更集中于目標位置外，還可以將首飾被檢測到的jq位置的圖片信息，連同計算報告一起打印出來。 5）售后服務遵循儀器儀表國家規定 產品實行國家儀器儀表“三包”,一年保修,三月包換，終生維護,終生免費軟件升級。 市場部經理：曾祥芬 手機：+86-13418624495 地址：深圳市寶安區25區華豐商貿城5樓A15 傳真：+86-755-27808750 網址：http://