主要技術優點： 一：功能：結合三次元、二次元、工具顯微鏡、投影儀的功能于一體。 二：功能強大的2D/3D測量系統軟件 ①光學座標系統為基點測量產品的任意二維、三維測空間尺寸。 ②探針座標系統為基點測量產品的三維空間及二維平面尺寸。 ③采用相同的座標系統，使用測頭的三維測量可與影像二維混合使用或使用影像的二維平面與三維立體測量wm結合。 三：主要高質量配件組成光學： ①.美國精密多倍率起低變形（遠心光學設計）的全自動變倍鏡頭，全自動對焦（變倍后不需要重新校正）。 ②.200萬像素高清工業CCD(美國TEO)。 ③.光源:電腦程控四路上光源，直軸可調下光源。 2.測頭：英國Renishaw高精密接觸式測頭。 3.光柵尺：光柵尺0.0005mm。 四：全自動編程：光學測量及探針測量可同時在一組編程中混合使用。 儀器特點 1.有點,線,圓,兩點距離,角度等基本量測功能，有坐標平移和坐標轉換功能 2.四相自動可調光源, 可程序控制 3.可以攝取被測物體的圖像 4.伺服馬達驅動 5.自動對焦量測高度/深度 6.自動版光學影像量測軟件 7.IUI功能，以盡量少的步驟完成量測操作 8.自動編程 9.SPC功能測量數據可導入EXCEL,WORD或CAD軟件 具體型號 QV-3020PRO-3D新款 （LT-3020DT 老款） (X/Y/Z軸)量測行(mm) 300*200*150 全機尺寸(mm) 650*720*1650 機臺底座和立柱材料 高鋼性鋁合金 光源材質 LED冷光源 X/Y/Z軸量測精度 （2+L/200）um 放大倍率 光學：0.7--4.5X，影像：28--180X 光學尺解析度 0.5 um 重復測量精度 1 um 運行速度 max：300mm/S 操作方式 自動 電源供給 220V 合適溫度、濕度 溫度：19°--24°，濕度：45%--75% 保修期 2年