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產地：美國
主要特點：
1)X-7600SDD/LE 在帶有二次靶技術的能量色散型X射線熒光分析儀領域中，引進專利技術，重新定義了“{zxj}”的概念,使得元素周期表中所有元素的檢測都能得到{zj0}結果。
2)為分析調查和開發應用提供了高性能的解決方案，同時，為商業實驗室分析提供了一種低成本、{gx}益的選擇。
3)以高精度、sub-ppm檢測精度為特色，在環保、地質和貴金屬檢測領域中，不管是輕元素還是重元素分析，X-7600SDD LE與其他分析儀器相比都具有更加{zy1}的檢測性能；
4)提高了輕元素例如F、Ne、Na的檢測精度；
5)SDD 探測器具有電子噪音低和高計數率的特點，與Si-PIN 探測器相比，SDD 探測器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析結果；
6)8 個二次靶為快速jq的定量分析提供了{zd0}程度的靈敏度，甚至是像合金、塑料、地質這樣復雜的基質中。wq自定義的二次靶使得檢測結果能達到sub-ppm 級別；
7)能夠分析液體、固體、泥漿、粉末、片狀物體等。并且分析樣品室能夠滿足不用形狀和尺寸樣品的需要；
8)10個位置的自動進樣器整體設計允許了{zd1}限度的操作員干預、自動加載以及無人照管操作；
9)該儀器檢測快速，精準，使用方便。它具有堅固的計算機硬件和強大的fxrj能檢測限低；
10)多通道采集分辨率為改良過的探測器提供優質的峰與峰的比率。
技術參數：
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測量能力
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測量范圍
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C(6)－Fm（100）
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元素含量分析范圍
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ppm - {bfb}（在指定應用領域中）
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X光管
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X光源
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Rh – 陽級標準
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X-射線電壓
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60kV, 400W.
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激發模式
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二次靶激發模式
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穩定性
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室溫條件下jq到0.1%
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X光探測器
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探測器
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硅鋰探測器（SDD），避免使用液態氮
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分辨率
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136 eV ± 5eV at 5.9 keV
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窗口
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Be
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特性
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自動成樣
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10個位置
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工作條件
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空氣/真空/氦氣
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濾光片
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8款可選的軟件
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二次靶
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8款可選的軟件: Zr, Si, ti, fe, Ge, mo, Sn, Gd.
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電源
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115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz
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脈沖加工
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多信道分析
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光學
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專利 WaG ? (廣角幾何)
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尺寸（L×W×H，cm）
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85×85×105(不含包裝)，145×95×135（含包裝）
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重量
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170Kg（凈重），200Kg(總重)
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樣品室尺寸
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直徑28cm,高5cm
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電腦
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集成 pc
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軟件
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操作軟件
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nEXt，運行在Windows XP下的數據采集及fxrj包外加初級基本參數算法
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控制
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樣品激發，探測，樣品操控，數據采集及處理的自動控制
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光譜處理
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逃逸峰及背底的自動去除，自動重疊峰解析，圖解式統計報告
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定量分析算法
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考慮共存元素效應的多元素回歸法（六種模式）。總計數，凈計數擬合及數字濾波器法。
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報告
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用戶可自定的數據報表及打印形式
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