Agilent E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內置分析功能。它將為元器件和電路設計人員測量 3 GHz 以內的元器件提供創新功能，幫助他們進行研發工作。與反射測量技術不同，E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術，可在廣泛的阻抗范圍內提供更jq的阻抗測量結果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于進行低功耗元器件分析。內置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和1 mHz的分辨率。
材料評估
E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案，涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。
晶圓測量
借助E4991A-010 探針臺連接套件，您可輕松地地將 Agilent E4991A 連接到射頻探頭系統（由 Cascade Microtech 提供）上進行晶圓測量。
溫度特性評估
溫度特性測試套件 E4991A-007 是一款為元器件和材料進行溫度特性測量的新型解決方案。該選件可在 - 55°C 至 + 150°C 廣泛的溫度范圍內提供高精度的溫度特性分析功能，以及強大的溫度漂移補償功能。
主要技術指標
基本精度
基本精度 +/-0.8%
掃描參數
頻率：1 MHz 至 3 GHz
振蕩器電平：高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置電平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA
更多特性
Windows 風格的用戶界面
內置 VBA 編程功能
通過 LAN 接口進行數據傳輸
多功能測量選件
介電/磁性材料測量（選件 E4991A-002）
可靠的晶圓測量（選件 E4991A-010）
溫度特性測量（選件 E4991A-007）
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