手持式礦石分析儀測量范圍(Mg-U)
Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd,
Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。

手持式礦石分析儀測量礦種:各種金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦
例如：鐵礦、銅礦、鋅礦、鈦礦、釩礦、鉻礦、錳礦、鈷礦、鎳礦、鉛礦、鉬礦、鎂礦、鋁礦、
銀礦、金礦、鉑礦、硫礦、砷礦、硒礦等

主要應用
主要分析礦體、礦塊、礦粉、礦渣、精礦、粗礦、尾礦；
還可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥漿；粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層等。

手持式礦石分析儀特點：
簡體中文界面
Windows Mobile5.0操作系統
開機后不需校準就可直接測量
采用布魯克專利技術的XFlash?SDD檢測器
分析元素最小從Mg開始，達40多種。
分析范圍：ppm級至50%以上(與礦樣種類有關)
實時分析數據和圖譜顯示
XRF軟件具有定性、定量分析功能，控制光管的電壓和電流，使測量范圍更廣
測量wq無損，不受樣品形狀限制
儀器自動校準，自動存儲測量數據，無需人工干預
主機一體化設計，高強度密封，防水、防塵，抗沖擊
可選擇一鍵式定時測量
內置Bruker專業操作軟件，計算和顯示速度快
儀器適應高溫，低溫，潮濕，雨天、沙塵等惡劣環境
在開機狀態下長時間不測量時，儀器會自動進入待機狀態，以節省電源和保護儀器
X射線管耐用性強，采用Peltier半導體恒溫制冷技術更增加了使用壽命
選配GPS定位系統，可jq定位礦體位置并繪制礦脈分布圖
{wn}FP模式，適于各種礦石樣品，大大縮短現場工作時間。自動補償元素間干擾。
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