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X射線測厚儀980

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利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。

X-Strata是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。

它在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出{zy1}的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。

鍍層測厚儀X-Strata系列提供：

無損分析：無需樣品制備
經行業認證的技術和可靠性，確保每年都帶來收益
操作簡單，只需要簡單的培訓
分析只需三步驟
杰出的分析準確性和jq性
在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經驗
一款全面強大的X射線熒光分析儀，能夠檢測各種大小的樣品
- 快速、jq分析固體、液體和粉末
- 程控臺的大樣品艙方便樣品擺放和測量（可選）
- 集成電腦節省了臺式儀器的空間
- 高分辨率檢測器使檢測下限降到{zd1}
- 應用廣泛，包括光電池、RoHS有害元素篩選和貴金屬分析

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