現貨供應TEK370B TEK370A回收TEK370B晶體測試儀


東莞市科信電子儀器有限公司
 
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以上儀器我們長期經營（同時回收紀R:180-2525-6265）。此推廣長期有效。質量為本,服務至誠! 您的滿意是我的追求! 


主要參數：·半導體器件高精度測量
    -上限達2000V或電流到10A的源（370A）
    -上限到3000V（371A）
    -上限到220W（370A）
    -上限到400A（371A）
    -1nA的測量分辨率
    -上限到3000W（371A）
    ·上限到2mV的測量分辨率（370A）
    ·波形對比
    ·包絡顯示
    ·波形平均
    ·點光標（370A）
    ·Kelvin傳感測量
    ·全程控
    ·MS-DOS兼容的軟盤，方便設置參孝存儲和調用
    應用
    手動或自動進行半導體高分辨率DC參數測量
    來料檢查
    生產測試
    過程監視及質量控制
    數據報告的生成
    元件配對
    失效分析
    工程測試
    交互式程控
    所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式，調整和存儲操作參數，包括370A的非
    易失存儲器、內置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。
    測試夾具
    測試夾具是標準附件，它提供被測器件安全防護，以保護測量人員的安全。測試夾具適應標準的A1001，中間通過Kelvin傳
    感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。
    370A程控特性曲線圖示儀
    370A是全球zm的高分辨率特性曲線圖示儀，可應用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場效應管
    、光電元件、太陽能電池、固態顯示和其它半導體器件的直流參數特性的測試。
    在研發實驗室，用370A來完成新器件、SPIEC參數的提取、失敗分析和產生數據報告這些具體的測試工作
    在制造過程中，用370A檢驗器件質量及過程監視。
    370A可進行來料檢查、器件性能測試、失效分析和器件配對這些測試工作。
    技術指標 集電極電源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范圍 {zd0}峰值電流（±） 峰值電流（脈沖式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 階梯信號發生器 模式 階梯：DC,80μS脈沖，300μS脈沖 階梯量程- 　 電流： 50nA到200mA，按1-2-5順序 電壓： 50mV到2V，按1-2-5順序 偏置 {zd0}到±10X階梯幅度 階梯數 0到10 測量特性 集電極電流- 　 測試量程： 100nA/div(1nA分辨率）至2A/div誤差，1.5%光標讀出+0.05div設定值（點光標） 發射極電流- 　 測試量程： 1nA/div(10pA分辨率）至2mA/div 誤差 1.5%光標讀出+0.05div設定值+1nA 安全標準 UL1244，CSA231，HD401S1

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