電壓暫降_短時中斷_電壓變化_抗擾度試驗GB/T 17626.29-200執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：IEC 61000-4-11 GB/T17626.11標(biāo)準(zhǔn)
1.1 電壓電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗起因：
電壓暫降、短時中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的。
1.2 電壓電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗?zāi)康模?/strong>
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了不同類型的實驗來模擬電壓的突變效應(yīng)，以便建立一種評價電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受這種變化時的抗擾性通用準(zhǔn)則。
GB/T 17626.29-2006電磁兼容試驗和測量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗為GB/T 17626 電磁兼容 試驗和測量技術(shù)系列標(biāo)準(zhǔn)的第二十九部分。
GB/T 17626.29-2006電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗等同采用IEC 61000-4-29：2000《電磁兼容 第4部分：試驗和測量技術(shù) 第29部分：直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗》。
GB/T 17626的本部分規(guī)定了在電氣、電子設(shè)備的直流電源輸入端口對電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗方法。
本部分適用于由外部直流網(wǎng)絡(luò)供電的設(shè)備的低電壓直流電源端口。
本部分的目的是建立一種評價直流電氣、電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時中斷和電壓變化時的抗擾度的通用準(zhǔn)則。
本部分規(guī)定了：
——試驗等級的范圍；
——試驗發(fā)生器；
——試驗布置；
——試驗程序。
本部分的試驗適用于電氣和電子設(shè)備或系統(tǒng)。如果EUT（受試設(shè)備）的額定功率大于第6章要求的試驗發(fā)生器的容量，也同樣適用于模塊或子系統(tǒng)。
直流電源輸入端口的紋波不包括在本部分中，它們包括在GB/T 17626.17-2005中。
不適用于特殊的裝置或系統(tǒng)。其主要目的是對有關(guān)的專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提供通用的和基礎(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)準(zhǔn)會（或用戶和設(shè)備制造商）仍有責(zé)任選擇適合其設(shè)備的試驗和嚴(yán)酷度等級。
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