LCR測試儀IM3536 測量頻率4Hz~8MHz
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簡單介紹
LCR測試儀IM3536；IM3536具備4Hz~8MHz寬頻率范圍，實現高速、高精度測量。滿足電子元件的研發和生產等多種領域的要求；歡迎選購LCR測試儀IM3536。
LCR測試儀IM3536的詳細介紹
性能特點：
測量頻率4Hz~8MHz，精度保證范圍1mΩ和測量范圍擴大
以往產品（3532-50）的測量帶寬為42Hz~5Mhz，而IM3536的帶寬擴大到了4Hz~8MHz。因此，可以測量用于各種領域中的電子元件特性。特別是，*高頻率8MHz適用于高頻化的電源用電感的測量。
而且，精度保證范圍比起以往產品10mΩ以上，IM3536的精度保證為1mΩ以上，因此也適用于有低頻化要求的電容等的測量。
和以往產品相比，實現高速、高精度測量
IM3536和以往產品相比改善了測量時間和基本精度。
比起以往產品的測量時間為5ms（0.005秒），IM3536是1ms（0.001秒），測量速度提高了4倍。因此，用于電子元件的產線中時，有助于提高產量。
而且，相對于以往產品的基本精度（代表值）0.08%，IM3536為0.05%，因此適用于有高精度要求的電子元件。
連續測量功能，1臺即可完成不同條件的檢查
在電子元件的評估中，有時會需要對1個電子元件需要按照不同條件和項目來測量。以往產品因為測量條件的切換時間和測量時間較慢，所以這類多種條件檢查會需要多臺測量儀器。
IM3536的測量條件的切換和測量實現了高速化，而且IM3536具備連續測量功能（不同測量項目連續測量的功能），因此1臺IM3536就可以完成以前多臺測量儀器才能完成的測量。 這樣，可以簡化產線中所用自動檢查機的結構，從而實現低價化。
具備提高檢查品質的接觸檢查功能
檢查時，發生測試探頭的斷線、和被測物的接觸**時，可能存在測量誤差變大等影響測量值準確性的現象。為了防止此類事情，標配了能夠知道測試探頭斷線和接觸**的接觸檢查功能。由此有助于提高檢查的品質。
基本參數
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測量模式
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LCR（單一條件下測量），連續測量（保存條件下連續測量）
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測量參數
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Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
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測量量程
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100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所有參數由Z規定）
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顯示范圍
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Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
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基本精度
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Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ）
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測量頻率
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4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進)
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測量信號電平
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[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (*大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (*大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (*大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (*大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (*大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (*大1 V)
[直流電阻測量]: 1 V固定
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DC偏壓
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發生范圍：DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時0 ~1 V)
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輸出阻抗
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通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
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顯示
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彩色TFT5.7英寸，觸摸屏
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功能
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比較器、BIN測量（2個項目10種分類），觸發功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能
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接口
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EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出
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電源
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AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
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體積及重量
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330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
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附件
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電源線×1,使用說明書×1,CD-R（通訊說明書，LCR應用光盤）×1
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