MarSurf CM select 是強大的可配置型共聚焦顯微鏡，用于表面的三維測量和分析 – 非接觸，與材料無關，而且速度快.
典型測量任務
粗糙度測量符合
ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
表面特征輪廓測量（包括體積、磨損、摩擦學）
輪廓和形狀 (2D, 3D)
孔，顆粒分析
缺陷檢測
根據應用調整的測量解決方案
作為一個多傳感器系統，MarSurf CM select 將多種傳感器技術結合到了一個測量設備中。也可以根據測量任務選擇的點傳感器。MarSurf CM select 可以滿足您對樣品尺寸、自動化、測量舒適度和準確性的個性化要求 - 甚至全自動的測量解決方案。
數據質量
我們最重要的標準之一，即優異的精度、準確性、可再現性和文檔記錄，保證可追溯性和可審核性。我們為客戶提供的服務就是提供能夠可靠地用于工程、產品、工藝設計和質量控制領域的定量測量值。
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MarSurf CM select
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分辨率
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可達 2 (nm) 垂直
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測量速度
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100fps
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工件重量 (kg)
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15 kg
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測量原理
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共聚焦
高性能 LED（505 nm / 白）
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語言
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德語 , 英語 , 法語 , 意大利語 , 西班牙語 , 葡萄牙語 , 波蘭語 , 俄語 , 土耳其語 , 中文 , 日語 , 韓語
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其他
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xyz 方向碰撞檢測
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電源
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100 - 240 V
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表面參數
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ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178,
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我們產品的各種應用
機械工程
鑒定和量化粗糙度、幾何形狀和磨損量
電子和半導體
亞微米級的組件檢測，確保產品無缺陷
醫療技術
生產和實驗室中醫療表面的質量保證
材料科學
新表面和產品的功能屬性的優化
微系統技術
以納米級精度測量最小組件的復雜表面幾何形狀
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