德國Mahr 馬爾 MarSurf WI 50 表面的三維測量和分析 無接觸
靈活的測量解決方案
MarSurf WI 50 是一臺強大的表面分析儀，用于表面的三維測量和分析 - 無接觸，與材料無關，而且速度快.
靈活的測量解決方案
MarSurf CMexplorer有堅固的結構且對環境波動不敏感，所以適合測試實驗室和生產環境中的質量保證測量。
典型測量任務
粗糙度測量符合
ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
表面特征輪廓測量（包括體積、磨損、摩擦學）
輪廓和形狀 (2D, 3D)
孔，顆粒分析
缺陷檢測...
數據質量
我們最重要的標準之一，即優異的精度、準確性、可再現性和文檔記錄，保證可追溯性和可審核性。我們為客戶提供的服務就是提供能夠可靠地用于工程、產品、過程設計和質量控制領域的定量測量值。
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MarSurf WI 50
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分辨率
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0.2 (nm) 垂直
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測量速度
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140 fps
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測量原理
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白光干涉
高性能 LED (650 nm / white)
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其他
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xyz 方向碰撞檢測
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電源
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100 - 240 V
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表面參數
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ISO 4287、ISO 13565、ISO 25178…
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準確，可重復的測量
您的測量數據將可靠地記錄、可以復制，并確保原始數據和輪廓精度有的質量。
可測的工件范圍廣泛
測量不受材料影響，不管幾何形狀和表面特性是反射性、吸收性、不透明還是透明，都能進行測量。
直觀的操作
簡單的用戶引導界面，所有重要測量參數都有自動模式，包括對已知表面使用測量方案。
我們產品的各種應用
機械制造
鑒定和量化粗糙度、幾何形狀和磨損體積
電子系統和半導體
亞納米級組件檢測，保證產品無故障
醫療技術
生產和實驗室中醫療表面的質量保證
材料科學
新產品表面的功能性特征優化
微系統技術
以納米級精度測量最小組件的復雜表面幾何形狀
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