Keithley 吉時(shí)利2182A納伏表
雙通道 Keithley 2182A 納伏表經(jīng)過優(yōu)化，可進(jìn)行穩(wěn)定、低噪聲的電壓測量，以及可靠且可重復(fù)地表征低電阻材料和設(shè)備。與其他低壓測量解決方案相比，它提供更高的測量速度和明顯更好的噪聲性能。
Keithley 2182A 代表了 Keithley 納伏表技術(shù)的下一步發(fā)展，它取代了原來的 2182 型并提供
了增強(qiáng)的功能，包括脈沖能力、更低的測量噪聲、更快的電流反轉(zhuǎn)，以及用于結(jié)合反向電流源進(jìn)行電阻測量的簡化三角洲模式.
在高速下進(jìn)行低噪聲測量，通常在 1s 響應(yīng)時(shí)間時(shí)只有 15nV pp 噪聲，在 60ms 時(shí)只有 40-50nV pp 噪聲
Delta 模式使用 24Hz 的反向電流源和一個(gè)讀數(shù)的 30nV pp 噪聲（典型值）協(xié)調(diào)測量。平均多個(gè)讀數(shù)以更好地降低噪音
與線路同步提供 110dB NMRR 并限度地減少交流共模電流的影響
雙通道支持測量電壓、溫度或未知電阻與參考電阻的比值
內(nèi)置熱電偶線性化和冷端補(bǔ)償
靈活、有效的速度/噪聲權(quán)衡：
針對特定應(yīng)用的響應(yīng)時(shí)間和噪聲級(jí)要求輕松選擇速度/濾波器組合
從廣泛的響應(yīng)時(shí)間中進(jìn)行選擇的能力允許優(yōu)化速度/噪聲權(quán)衡
在很寬的有用響應(yīng)時(shí)間范圍內(nèi)確保低噪聲水平，例如，1s 時(shí)的 15nV pp 噪聲和 60ms 時(shí)的 40-50nV pp 噪聲是典型值
計(jì)量應(yīng)用：
將數(shù)字萬用表的精度與高速低噪聲相結(jié)合，適用于高精度計(jì)量應(yīng)用
其低噪聲、高信號(hào)觀察時(shí)間、快速測量速率和 2ppm 精度為電壓標(biāo)準(zhǔn)比對和電阻標(biāo)準(zhǔn)直接測量等應(yīng)用提供了當(dāng)今最具成本效益的儀表
納米技術(shù)應(yīng)用：
與 622X 型電流源或 2400 系列 SourceMeter® 儀器相結(jié)合，是一種高精度和可重復(fù)的解決方案，用于測量基于碳納米管的材料和硅納米線的電阻
研究應(yīng)用：
其 1nV 靈敏度、熱電 EMF 消chu、“真實(shí)”電壓的直接顯示、執(zhí)行計(jì)算的能力和高測量速度使其成為確定
金屬、低電阻填充塑料和高低溫超導(dǎo)體等材料特性的理想選擇
本公司回收以下品牌各類儀器：
NI (美國國家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時(shí)利）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達(dá)）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛德萬）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計(jì)) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、ITECH(艾德克斯)、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達(dá)）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛斯福）、GWINSTEK （固緯）
回收類別：
網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、綜合測試儀、示波器、信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)分析儀、色彩分析儀、數(shù)字通訊測試儀、高頻信號(hào)源、頻率計(jì)、功率計(jì)、音頻分析儀、電源、數(shù)字源表、天饋線測試儀、光譜分析儀、噪聲系數(shù)分析儀、數(shù)字萬用表、靜電計(jì)/高阻表、函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、LCR測試儀、電子負(fù)載、納伏表/皮安表、多用表校準(zhǔn)儀、廣播電視測試儀、高壓機(jī)/耐壓測試儀、NI機(jī)箱/模塊/控制器、 直流電源分析儀/模塊、數(shù)據(jù)采集器、邏輯分析儀、晶體管測試儀、調(diào)制度分析儀、藍(lán)牙測試儀、阻抗分析儀、視頻分析儀、光波測量系統(tǒng)、阻抗測試治具及附件、衰減器、探頭、RoHS/環(huán)保檢測儀、耦合板等等。
