Tektronix泰克P7380A 8 GHz差分探頭

Tektronix泰克P7380A 8 GHz差分探頭

對于高速電路設計人員，可提供寬頻帶、低負載、低噪聲的差分測試方案。小型探頭及探頭尖附件可以使用戶很容易、很方便地探測表面封裝器件。

適合于數字集成電路設計（RAMBUS，DDR，IEEE 1394，USB2.0和ATA）、通訊應用（千兆比以太網和光纖通道）以及磁盤驅動器方面寬頻帶信號的時域和頻域測量。

Tektronix泰克P7380A 8 GHz差分探頭

特點和優點

l  3.5GHz/8GHz帶寬(典型)、

l <130ps(典型值)，<140ps〈55ps上升時間(保證值)

l  低輸入電容：<0.5pF差分(典型)

l  共模抑制比(CMRR)在1MHz時≥60dB

l  (1000:1)(典型值)

l  小型探頭可以簡便地探測SMDs

技術參數

l  帶寬（僅指探頭）：3.5/8GHz（典型值）

l  上升時間：<140ps<130ps〈55ps（典型值）

l  衰 減 比：5X

l  差分輸入電容：<0.5pF（典型值）

l  差分輸入電阻：100kΩ

l  差分輸入范圍：±2V（20℃至30℃）

l  共模輸入范圍：±25V（DC+PEAK AC）

l  共模仰制比：>6dB 1MHz時（典型值）

l  噪聲：近似為35nV/根下HZ

l  接口：TekConnect onnect接口，能完整傳輸上限到10GHz的信號，遠遠超出現在和將來對帶寬的需求

本公司高價回收以下品牌各類儀器：

NI (美國國家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時利）、HIOKI、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛德萬）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、ITECH(艾德克斯)、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛斯福）、GWINSTEK （固緯）

回收類別：

網絡分析儀、頻譜分析儀、綜合測試儀、示波器、信號發生器、信號分析儀、色彩分析儀、數字通訊測試儀、高頻信號源、頻率計、功率計、音頻分析儀、電源、數字源表、天饋線測試儀、光譜分析儀、噪聲系數分析儀、數字萬用表、靜電計/高阻表、函數信號發生器、LCR測試儀、電子負載、納伏表/皮安表、多用表校準儀、廣播電視測試儀、高壓機/耐壓測試儀、NI機箱/模塊/控制器、 直流電源分析儀/模塊、數據采集器、邏輯分析儀、接收機、晶體管測試儀、調制度分析儀、藍牙測試儀、阻抗分析儀、視頻分析儀、光波測量系統、阻抗測試治具及附件、衰減器、探頭、RoHS/環保檢測儀、耦合板等等。