IGBT等新型功率器件的全參數(shù)自動測試是當前世界半導體測試領域的關鍵技術之一,目前國際上僅有幾家專業(yè)設備廠家可以生產,進口測試系統(tǒng)的高額售價和售后服務不能保證,讓國內不斷擴大的生產和應用業(yè)望而卻步, 成為國內新型功率半導體發(fā)展的瓶徑. 2007年11月國家發(fā)改委和科技部就”電力電子專題項目”專門下?lián)?00萬元創(chuàng)新基金支持西安電力電子技術研究所開發(fā)該類測試系統(tǒng). 目前我公司提供的該項新產品采用模塊式功放結構, 主極電流可提供400A/500A/1000A/1250A選項, 2500A/5000A選項可以根據(jù)用戶需要定制. 該產品可測IGBT參數(shù)包括了ICES, BVCES, IGESF, IGESR, VGETH, VGEON, VCESAT, ICON,VF, GFS, rCE等全直流參數(shù), 所有小電流指標保證1%重復測試精度, 大電流指標保證2%以內重復測試精度, 達到目前國外進口同類產品{lx1}水平. 該產品可針對目前封裝的多單元IGBT特征, 根據(jù)用戶需要提供4/ 8/ 20單元掃描測試適配器, 從而實現(xiàn)多單元封裝器件的一次性全參數(shù)測試. 與進口專用測試系統(tǒng)相比, 該產品可同時對各種功率的其它10-18多類半導體分立器件進行全參數(shù)測試, 具有更高的使用效率. 與國外同類產品相比, 該產品具有更高的性能價格比和國外廠家不能做到的優(yōu)質售后服務保證.