LWD200-4XI 金相顯微鏡 LWD200-4XI 金相顯微鏡 LWD200-4XI 金相顯微鏡 LWD200-4XI 金相顯微鏡 產品概述:
倒置型 LWD200-4XI 金相顯微鏡適用于金相學、冶金學專業實驗室的研究。并廣泛應用于集成電路IC行業、電子半導體業。也可用于鑒別和分析各種金屬和合金的組織結構,可廣泛地應用在工廠或實驗室進行鑄件質量的鑒定,原材料的檢驗或對材料處理后金相的研究分析等工作。本儀器可配用攝影裝置進行顯微攝影。
技術參數:
1.物鏡:
類別 放大倍數 數值孔徑
N.A 系統 工作距離
(mm)
消色差物鏡 10X 0.25 干 7.32
半平場消色差物鏡 40X 0.65 0.66
消色差物鏡 100X 1.25 油 0.37
2.目鏡
類別 放大倍數 視場直徑(mm)
平場目鏡 10X 18
12.5X 15
3.攝影目鏡:(選購件):1X,0.44X