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超高溫探針臺1000度探針臺 熱電阻測試 光學測試探針臺 微型真空高低溫探針臺配件

作者：鄭州科創實驗儀器設備有限公司 來源：zztk001 發布時間：2022-08-02 瀏覽：76
超高溫探針臺1000度探針臺 熱電阻測試 光學測試探針臺 微型真空高低溫探針臺配件

1000度高溫顯微鏡熱臺 高溫探針臺  用于觀察高溫樣品結晶過程 和熱電阻測試 光學測試


電信號接頭 配線轉接 BNC接頭   BNC三同軸接頭  SMA 接頭  香蕉插頭  線長1.2米

電學性能 絕緣電阻 ≥4000MΩ   介質耐壓 ≤200V  電流噪聲 ≤10pA
探針數量 4探針（可擴展5探針）

探針材質 鍍金鎢針 （其他材質可選）

探針尖 10μm
手動探針移動平臺
X軸移動行程 20mm    ±10mm（需手動推動滑臺）
X軸控制精度 ≥500μm
R軸移動行程 120°    ±60°（需手動旋轉探針桿）
R軸控制精度 ≥500μm
Z軸移動行程 2mm    ±1mm
Z軸控制精度 ≤50μm（需手動螺紋調節探針桿）

其它技術參數請來電詳詢：15515545802





鄭重聲明：資訊 【超高溫探針臺1000度探針臺 熱電阻測試 光學測試探針臺 微型真空高低溫探針臺配件】由 鄭州科創實驗儀器設備有限公司 發布，版權歸原作者及其所在單位，其原創性以及文中陳述文字和內容未經(企業庫www.zgmflm.cn)證實，請讀者僅作參考，并請自行核實相關內容。若本文有侵犯到您的版權， 請你提供相關證明及申請并與我們聯系（qiyeku # qq.com）或【在線投訴】，我們審核后將會盡快處理。
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