二手收購E4440A大量回收

E4440A頻譜分析儀/3 Hz - 26.5 GHz


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E4400系列：
E4401A，E4401B，E4403A，E4404A，E4405A，E4406A，E4407A，E4408A，
E4402B，E4411B，E4408B，E4411A，E4403B，E4404B，E4406B，E4405B，E4407B


E4440系列：
E4443A，E4443B，E4440B，E4445A，E4445B，E4448A，E4446A，E4440A，
E4447A，


E7400系列：
E7405A，E7403A，E7404A，E7401A，E7402A


N9300系列：
N9320A，N9320B，N9340B，N9340A，N9342C，N9010A，N9020A，N9030A


R3132A，R3361C，R3261C，R3131，HM5010，HM5011，
HM5012，HM5014，HM5510，HM5511，SA970，SA-930，
主要特性與技術指標
性能
+/-0.24 dB{jd1}幅度精度
-155 dBm/Hz顯示的平均噪聲電平（DANL）
10 kHz偏置時的相噪：-118 dBc/Hz
81 dB W-CDMA ACLR 動態范圍
帶寬
40或80 MHz分析帶寬支持捕獲和測量復雜的信號。
-78 dB（額定值）三階互調
0.5 dB IF頻率響應
-78 dB（額定值）三階互調
靈活性
功率套件能對20多種無線制式進行一鍵式功率測量
描述
E4440 PSA測量高達26.5GHz的RF及微波信號。


全新！ HSDPA/HSUPA 測量專用件


全新！ 內置接收器專用件


主要特性:
了解更多特性, 請查閱PSA 系列宣傳資料


動態范圍
-155dBm 顯示平均噪聲級 （DANL）
+17 dBm 三階互調（TOI）（+19 dBm 典型）
-116 dBc/Hz 相位噪聲（10 kHz 偏置）（-118dBc/Hz 典型）
jq度
±0.62 dB{jd1}振幅精度(±0.24 dB 典型)
±0.38 dB 頻率響應 (±0.11 dB 典型)
±0.07 dB對數放大線性度
速度
快速低電平寄生搜索
<30 ms 快速ACP測量
50測量/秒本地更新率，45測量/秒遠地測量
標準特性：
具有自動量程功能的全數字IF
相噪優化
全套檢波器套件
160個分辨率帶寬設置（10%步進)
2 dB 步進衰減器
FFT 及掃頻測量模式
門通選掃頻
套單鍵功率測量
用內置的CISPR和MIL標準預兼容EMI檢波器和帶寬進行EMI測量
可選特性：
內置前置放大器(選項 1DS: 100 kHz - 3 GHz； 選項 110: 10 MHz - 26.5 GHz)
簡便易用的內置 PSA系列測量專用鍵
調制分析及鏈接到89601A矢量信號分析
40 MHz 或80 MHz 帶寬數字轉換器
采用 外混頻的325 GHz頻率范圍


Rapid growth in satellite and wireless communications markets has contributed to the need for improved overall system performance which, in turn, applies pressure to improve the noise figure measurement and performance of subsystems and their components.


To do this accurately, it is necessary to understand how a number of variables affect the overall measurement uncertainty. For measurements with an analyzer that measures noise figure, the measurement system contributors typically include:


the analyzer itself
the noise source
the characteristics of the device under test (DUT)
These factors interact in a complex way, but the overall measurement uncertainty can be modeled.  The purpose of our 'Noise Figure Uncertainty Calculator' is to provide the measurement uncertainty associated with a particular DUT based on its characteristics and the specifications of the measurement system. For the model to be accurate in the Y-factor measurement technique case, the DUT must have reasonable reverse isolation, so that mismatch on one port does not drastically affect the impedance seen at the other port. For a more complete analysis refer to the article "Calculate the Uncertainty of NF Measurements", written by Duncan Boyd, Microwaves & RF October 1999, pp.93-102.

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