產地：德國

具采用專利的密封充氣紫外光學系統和OPI水平觀測等離子光學接口完成xc水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術和多視角等離子體定位等新技術，有高靈敏度、高精度以及波長范圍寬（130nm-770nm) 等特性，在ICP-OES 領域開拓了全新的應用，可分析包括ppm級鹵素在內的73個金屬和非金屬元素。 

主要特點 
1.一維色散＋32個CCD檢測器設計，檢測器無需超低溫冷卻，無需氬氣吹掃保護 
2.全波長覆蓋，{wy}為130－770nm的波長范圍，{wy}可以分析ppm級鹵素 
3.專利密閉充氬循環光路系統，檢測190nm以下譜線，無需氣體吹掃 
4.3秒實現真正全譜數據采集，分析速度最快 
5.所有氣體流量采用質量流量計計算機控制，矩管位置3維步進馬達計算機控制自動化程度高 

技術參數： 
光學系統 
焦距：0.75米 
光譜范圍：130nm – 770nm 
光柵：三光柵 
- 3600線/毫米 (130nm – 175nm) 
- 3600線/毫米 (175nm – 340nm) 
- 1800線/毫米 (340nm – 770nm) 
光譜級次：全波長一級光譜 
32個線性CCD連續 排列在羅蘭圓上 
每個CCD的像素數：3648 
分辨率：8.5pm （恒定不變） 
光室密閉充氬，無需吹掃（驅氣）和抽真空 
光室恒溫: 15℃ （ 0.1 ℃） 
- 開機即可使用 
- 測量130nm – 190nm波段方便快捷 
信號檢測與讀出系統 
32個線性陣列CCD 
工作溫度：15 ℃ （ 0.1 ℃），無須制冷， 
無須吹掃保護性氣流 
超高速數據讀取：雙CPU，平行數據讀出 
極高的動態范圍：108 
最短積分時間：0.1ms 
可進行瞬時信號的測量：與LC、HPLC等聯機成為真正可能 
決無“溢出”現象 
長壽命 
等 離 子 體 
自激式固態發生器和電源 
頻率：27.12MHz 
功率：750 - 1700W 
功率穩定性：<0.1% 
風冷 
全自動控制，功率連續可調 
耦合效率高 
等離子體觀測方式 
1、等離子體水平放置，軸向觀測 
可有效提高儀器的靈敏度10倍，尤其對于激發電位較低的元素，如：Zn、K、Na 
專利的OPI技術 
冷錐冷卻方式：水冷，冷卻效率高 
計算機全自動控制冷錐與等離子體 
的相對位置 
氬氣反吹，在保證遠紫外波段的光 
效率前提下，冷錐和光路（包括透 
鏡）無污染的可能 
2、等離子體垂直放置，徑向觀測 
等離子體垂直放置優點： 
不會燒炬管 
減少基體干擾 
減少進樣系統沖洗時間 
實驗成本降低 
分析速度快