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產(chǎn)地：美國(guó)
儀器簡(jiǎn)介：
RoHS指令限制在電子電氣設(shè)備中使用有毒物質(zhì)。新一代的RoHS Vision運(yùn)用高分辨率的探測(cè)器，軟件集成相機(jī)以及具有可變光點(diǎn)尺寸的強(qiáng)大的X射線管來(lái)調(diào)節(jié)大小不一致的樣品以及測(cè)量極低能級(jí)的限制物質(zhì)。快速定量分析有助于生產(chǎn)商嚴(yán)格遵守新的規(guī)則。對(duì)不同基質(zhì)、不同厚度、不同大小的樣品自動(dòng)識(shí)別基質(zhì)成分并選擇{zj0}采集參數(shù)。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
1)簡(jiǎn)單、快速進(jìn)行 RoHS 標(biāo)準(zhǔn)中有害物質(zhì)的認(rèn)定；
2)瞬間得到指定元素的jq分析結(jié)果；
3)集成照相機(jī)和微 X 射線光點(diǎn)能充分識(shí)別目標(biāo)區(qū)域；
4)擁有自動(dòng)基質(zhì)系統(tǒng)，即便不是專業(yè)的技術(shù)人員，也可以輕松操控這臺(tái)儀器；
5)直觀用戶友好的專有軟件；
6)堅(jiān)穩(wěn)緊湊的設(shè)計(jì)。
7)測(cè)量范圍從F(9)-Fm (100)，元素含量分析范圍從sub ppm~{bfb}；
8)可達(dá)到123eV的分辨率；
9)輕元素探測(cè)器可選；
10)高計(jì)數(shù)率結(jié)合高度創(chuàng)新的數(shù)字技術(shù)
主要應(yīng)用：
RoHS/WEEE 指令檢測(cè)，篩查受管制元素（Pb,Hg,Cd,Cr,Br）。包括：石化、聚合物、冶金 環(huán)境、礦物質(zhì)、取證以及自定義應(yīng)用程序等。
技術(shù)參數(shù)：
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X-RoHS+SDD用于RoHS環(huán)境
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X-RoHS+SDD用于全部分析環(huán)境
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測(cè)量能力
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測(cè)量范圍
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Pb, Hg, Cd, Cr, Br
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F(9)-Fm (100)
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元素含量分析范圍
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Sub ppm - {bfb}
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X光管
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X光源
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Mo–陽(yáng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)
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X-射線電壓
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50kV, 50W
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激發(fā)模式
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直接使用過(guò)濾器
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光斑尺寸
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微點(diǎn)—0.1mm，宏點(diǎn)0.8mm（根據(jù)樣品）
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穩(wěn)定性
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室溫條件下jq到0.1%
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X光探測(cè)器
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探測(cè)器
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硅漂移探測(cè)器/超級(jí)SDD，熱電冷卻
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分辨率
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129 eV ± 5eV (使用超級(jí)SDD，可達(dá)到123 eV ± 5eV)
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特性
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工作條件
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空氣/氦氣
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濾光片
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6款可選的軟件
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電源
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115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz
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脈沖加工
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多信道分析
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尺寸（L×W×H，cm）
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55×55×32(不含包裝)，80×80×65（含包裝）
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重量
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50Kg（凈重），90Kg(總重)
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樣品室尺寸
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22 x 22cm, H=5cm
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電腦
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集成 pc
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軟件
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操作軟件
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nEXt，運(yùn)行在Windows XP下的數(shù)據(jù)采集及fxrj包外加初級(jí)基本參數(shù)算法
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控制
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樣品激發(fā)，探測(cè)，樣品操控，數(shù)據(jù)采集及處理的自動(dòng)控制
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光譜處理
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逃逸峰及背底的自動(dòng)去除，自動(dòng)重疊峰解析，圖解式統(tǒng)計(jì)報(bào)告
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定量分析算法
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考慮共存元素效應(yīng)的多元素回歸法（六種模式）。總計(jì)數(shù)，凈計(jì)數(shù)擬合及數(shù)字濾波器法。
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報(bào)告
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用戶可自定的數(shù)據(jù)報(bào)表及打印形式
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