儀器概述

ZYG-6000隔爆型系列半導體激光氣體分析儀，是基于半導體激光吸收系列光譜技術（TDLAS）的高性能產品。主要應用在工業過程氣體分析、生物發酵和食品等行業。

ZYF-6000隔爆型系列分析儀具有安裝簡便、維護簡單、維護周期長、可靠性高、適應性強等特點。

ZYF-6000是LGT系列產品中ZYMC52D015 用于取樣安裝的半導體激光氣體分析產品，能對各類工業過程氣體、環保排放煙氣等過程氣體進行快速、準確和可靠的測量。采用的多路反射測量池，能有效的增加氣體的測量下限，可以滿足PPM級別的氣體檢測需求。

儀器原理

激光過程氣體分析系統基于國際{lx1}的半導體激光吸收光譜技術（TDLAS），即“單線光譜”測量技術。系統采用可調制的半導體激光器為發光光源，通過調制半導體激光器的工作電流強度來調制激光頻率，使激光掃描范圍略大于被測氣體的單吸收譜線。從而使半導體激光器發射的特定波長的激光束在穿過測量管時，被被測氣體選頻吸收，從而導致激光強度產生衰減。于是系統利用不同氣體成分均有不同的特征吸收譜線及氣體濃度和紅外或激光吸收光譜之間存在的 Beer-Lambert 關系，通過檢測吸收譜線的吸收大?。醇す鈴姸人p信息）就可以獲得被測氣體的濃度。但不同的是，傳統非分光紅外分析技術使用譜寬很寬且固定波長的紅外光源，而 DLAS 技術使用譜寬非常小(也就是單色性非常好)  且波長可調諧的半導體激光器作為光源。因此，TDLAS 技術具有傳統非分光紅外分析技術無法實現的一些性能優點。

半導體激光器發射的激光譜寬小于 0.0001nm，是紅外光源譜寬的 1/106，遠小于紅外光源譜寬和被測氣體單吸收譜線寬度，其頻率調制掃描范圍也僅包含被測氣體單吸收譜線（半導體激光吸收光譜技術也因此被稱為單線光譜技術），因此成功xc了背景氣體交叉干擾影響。不受被測氣體環境參數變化干擾被測氣體環境參數—溫度或壓力變化通常導致譜線強度和展寬發生變化，對溫度或壓力

信號不加修正就會影響測量結果。而TDLAS技術是對被測氣體單一吸收譜線進行分析，因此可較容易地對溫度、壓力效應進行修正。為此系統內置了溫度和壓力自動修正功能，能根據實際測量得到的被測氣體溫度和壓力對氣體成分測量值進行自動修正，從而可實現jq的在線氣體分析。

綜上所述，單線光譜技術、激光波長掃描技術和環境參數自動修正技術使 TDLAS 技術可以被用于實現氣體的在線分析，因此比非分光紅外等傳統采樣氣體分析系統具備更強的環境適應性。

現場安裝實例