絕緣電阻檢驗時施加的試驗電壓對測試結(jié)果有很大關系。因為試驗電壓升高時，漏電流的增加不成線性關系，電流增加的速率大于電壓增加的速率，故試驗電壓升高時測得的絕緣電阻值將會下降。

由于被測電連接器在測量極之間存在著一定的電容，測量初期電源先要對電容充電，因此在測試時往往會出現(xiàn)絕緣電阻測試儀上指示的電阻值有逐漸上升的趨勢，這是正常現(xiàn)象。不少電連接器試驗方法中明確規(guī)定，讀取絕緣電阻測試儀上的讀數(shù)必須在電壓施加 1min 后進行x

接觸電阻檢驗目的是確定電流流經(jīng)接觸件的接觸表面的電觸點時產(chǎn)生的電阻。如果有大電流通過高阻觸點時，就可能產(chǎn)生過分的能量消耗，并使觸點產(chǎn)生危險的過熱現(xiàn)象。在很多應用中要求接觸電阻低且穩(wěn)定，以使觸點上的電壓降不致影響電路狀況的精度。     測量接觸電阻除用毫歐計外,也可用伏-安計法,安培-電位計法。

   在連接微弱信號電路中，設定的測試數(shù)條件對接觸電阻檢測結(jié)果有一定影響。因為接觸表面會附有氧化層，油污或其他污染物，兩接觸件表面會產(chǎn)生膜層電阻。由于膜層為不良導體，隨膜層厚度增加，接觸電阻會迅速增大。

但根據(jù)筆者多年來從事電連接器檢驗的實踐發(fā)現(xiàn)，目前各生產(chǎn)廠之間以及生產(chǎn)廠和使用廠之間，在具體執(zhí)行有關技術條件時尚存在許多不一致和差異，往往由于采用的儀器、測試工裝、操作方法、樣品處理和環(huán)境條件等因素不同，直接影響到檢驗準確和一致。我們認為，針對目前這三個常規(guī)電性能檢驗項目和實際操作中存在的問題進行一些專題研討，對提高電連接器檢驗可靠性是十分有益的。