ATE檢測系統(tǒng)功能構(gòu)造
通盤而論，兩大部類，〔1〕核心測試構(gòu)造：承襲于傳統(tǒng)的測試技術(shù)，檢測技術(shù)，自動的實(shí)施信號處理（電子信號測量）。針對不同的DUT的測試提案不同，核心測試構(gòu)造也會有所不同。〔2〕計算機(jī)控制構(gòu)造：處理的速度和能力，取決于當(dāng)時的計算機(jī)能力。計算機(jī)技術(shù)事實(shí)上已經(jīng)變成了通用技術(shù)了，對于一套ATE來說，高指標(biāo)的計算機(jī)不見得是多好的計算機(jī)，滿足系統(tǒng)的需要，協(xié)調(diào)才是更好的標(biāo)準(zhǔn)。事實(shí)上，復(fù)雜的ATE設(shè)備的價格，相對于先進(jìn)的高指標(biāo)的fu務(wù)器價格來說，相當(dāng)于巨人跟侏儒的嬰兒的關(guān)系了。 總體上來說，計算機(jī)技術(shù)的作用，控制系統(tǒng)的協(xié)調(diào)，控制信號的注入路徑，控制數(shù)據(jù)的采集和處理，等等。
在所有的電子元器件(Device)的制造工藝?yán)锩妫嬖谥未嬲娴男枰@種需要實(shí)際上是一個試驗的過程。為了實(shí)現(xiàn)這種過程，就需要各種試驗設(shè)備，這類設(shè)備就是所謂的ATE(Automatic Test Equipment)。 這里所說的電子元器件 DUT(Device Under Test)，當(dāng)然bao括IC類別，此外，還bao括分立的元件，器件。ATE存在于前道工序(Front End)和后道工序(Back End)的各個環(huán)節(jié)，具體的取決于工藝(Process)設(shè)計的要求。
TE是Automatic Test Equipment的縮寫，根據(jù)客戶的測試要求、圖紙及參方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開發(fā)平臺，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術(shù)開發(fā)、設(shè)計各類自動化測試設(shè)備。
ATE測試由DMM，程控電源，DAQ Card, 單片機(jī)，繼電器，PLC，氣缸，F(xiàn)ixture等組成的電信號自動采集系統(tǒng)，廣泛運(yùn)用于ICT,FCT等測試設(shè)備。軟件部分采用NI LABView編寫，全自動依次采集并判定PASS/FAIL,自動生成測試報表并上傳數(shù)據(jù)庫.
