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儀器簡介
XTU系列測厚儀雖然結構緊湊，但是都有大容量的開槽設計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。
搭配微聚焦射線管和先進的光路設計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。
檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·最小測量面積0.002mm2·最深凹槽可達90mm。
外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動，移動精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的樣品測試都沒有難度，讓操作人員輕松自如。
應用領域
線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測
鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
手表、精密儀表制造行業
釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽車、五金、電子產品等緊固件的表面處理檢測
衛浴產品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
電鍍液的金屬陽離子檢測
性能優勢：
下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。
無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm.
微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。
{gx}率的jieshou器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。
精密微型滑軌：快速精準定位樣品。
EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
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項 目
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參 數
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測量元素范圍
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Cl（17）-U（92）
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涂鍍層分析范圍
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各種元素及有機物
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fenxi軟件
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EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析
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軟件操作
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人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤
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X射線裝置
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W靶微聚焦加強型射線管
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準直器
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? 0.05 mm ；? 0.1 mm；? 0.2 mm；? 0.5 mm；四準直器自動切換
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最近測距光斑擴散度
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10%
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測量距離
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具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
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樣品觀察
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1/2.5彩色CCD，變焦功能
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對焦方式
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高敏感鏡頭，手動對焦
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放大倍數
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光學38-46X，數字放大40-200倍
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樣品臺尺寸
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500mm*360mm
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移動方式
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高精密XY手動滑軌
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可移動范圍
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50mm*50mm
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隨機標準片
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十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
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其它附件
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聯想電腦一套、噴墨打印機、附件箱
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