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QE65000科研級的光譜儀
QE65000型科研級光譜儀結合了探測器、光學平臺和電子器件的功能，為用戶提供靈敏的系統，滿足在低亮度情況下的應用，例如熒光、DNA測序、天文學和拉曼光譜。QE65000型科研級光譜儀的量子效率可達90％，并具有很高的信噪比和快速的信號處理能力。
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 量子效率高達90％
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更高的系統靈敏度
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優異的紫外光響應能力
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滿足低亮度級別應用的條件
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板載微控制器
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即插即用USB
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光學平臺
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安裝和使用手冊
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規格
量子效率高達90％
QE65000型科研級光譜儀是我們研發的產品中最靈敏的光譜儀，其量子效率（其定義是光子轉變成光電子的效率）可以達到90％。
QE65000型科研級別光譜儀含有一個對紫外線感應能力超強的日本濱松出品的薄型背照式（Back-thinned）探測器。它的二維像素陣列（水平1044像素×垂直64像素）可以響應波長范圍為200～1100nm的光信號。特定的光譜范圍和解析度是由用戶的光柵和入射光狹縫的選擇來決定的。探測器的像素列在數據輸出前就累加的，這樣可以使采集數據的噪聲最小化。
用所包含的熱電制冷器，檢測器可以被冷卻到零下20℃，以減少暗噪聲。噪聲和暗信號的減少可以使光譜儀的積分時間達到15分鐘，并因此大大提高低亮度級別測試時的檢測極限。
光譜儀的低噪聲檢測器與16位的模擬/數字轉換器使得動態范圍達到25000:1，信噪比大于1000:1。
更高的系統靈敏度
由于二維檢測器使光譜儀能很好地利用入射光狹縫的高度，QE65000型科研級光譜儀的靈敏度得到了一定的提高。在我們生產的其它光譜儀中，光進入光具座是通過入射光狹縫的寬度來調節的；狹縫的高度是沒有影響的，因為線性檢測器不能有效地收集狹縫的整個高度的光。而使用QE65000型科研級光譜儀的二維檢測器，我們就可以更好地利用來自高度方向的額外的光信號。
優異的紫外光響應能力
QE65000型科研級別光譜儀的薄型背照式（Back-thinned）探測器對紫外線具有優異的響應能力，并且不需要外加涂層來提高其性能。.
滿足低亮度級別應用的條件
QE65000型科研級光譜儀是一個適合在低亮度應用的極好選擇，包括在熒光、拉曼光譜、DNA測序、天文學和薄膜反射等各個方面。用戶可以根據需要，將光譜儀的積分時間（類似于照相機的快門速度）設置成8ms～15min內的數值，而不會產生光學失真。下面是一個利用QE65000型科研級光譜儀、CUV-ALL 四方式比色皿架 、和PX-2型氙光源進行熒光分析的實例。特別說明：為了對PX-2型氙光源進行外部觸發操作，還需要HR4-BREAKOUT外接盒。
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