顯微熱成像術(shù)參數(shù)_optotherm顯微熱成像-立特為智能話(huà)：15219504346 （溫先）
關(guān)鍵詞： Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system
1. 它的應(yīng)非常廣泛，去封裝的芯片，未去封裝的芯片，容，F(xiàn)PC,甚小尺寸的路板（PCB、PCBA）,這也就讓你可以在樣品的不同階段都可以使thermal術(shù)進(jìn)，如下圖示例，樣品路板漏定位到某QFN封裝器件漏，將該器件拆下后現(xiàn)漏善，該器件焊引線(xiàn)來(lái)，未封定位為某引腳，封后針再做，進(jìn)一步確認(rèn)為晶圓某引線(xiàn)位置漏導(dǎo)致，如有需要可接著做SEM,FIB等。
未封器件
封器件
2. 它能測(cè)的半導(dǎo)體缺陷也非常廣泛，微安級(jí)漏，低阻抗短路，ES擊傷，閂效應(yīng)點(diǎn)，屬層部短路等等，而容的漏和短路點(diǎn)定位，F(xiàn)PC,PCB,PCBA的漏，微短路等也能夠jq定位
lock-in相
封芯片漏
GAN-SIC器件
3，它是無(wú)損：為日常的失效，往往樣品量稀少，這就要求失效術(shù){zh0}是無(wú)損的，而于某些例如陶瓷容和FPC的缺陷，雖然測(cè)能測(cè)存在缺陷，但是具體缺陷位置，市的無(wú)損如XRAY或超聲波，卻很難進(jìn)定位，只能通過(guò)樣品進(jìn)破壞性切片，且只能隨機(jī)挑選位置，而通過(guò)Thermal 術(shù)，你需要的只是給樣品，就可以述兩種缺陷進(jìn)定位
FPC缺陷
容缺陷
4,相熱成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：相術(shù)，將溫度分辨率高到0.001℃，5um分辨率鏡頭，可以測(cè)uA級(jí)漏流和微短路缺陷，遠(yuǎn)由于傳統(tǒng)熱成像及液晶熱點(diǎn)測(cè)法（0.1℃分辨率，mA級(jí)漏流熱點(diǎn)）
5，系統(tǒng)能夠測(cè)量芯片等微觀器件的溫度分布，了一種速測(cè)熱點(diǎn)和熱梯度的有效手段，熱分布不僅能顯示缺陷的位置，在半導(dǎo)體領(lǐng)域
在集成路操期間，內(nèi)部結(jié)加熱導(dǎo)致接處的熱量集中。器件中的峰值溫度處于接處本身，并且熱從接部向外傳導(dǎo)到封裝中。因此，器件操期間的jq結(jié)溫測(cè)量是熱表征的組成部分。
芯片附著缺陷可能是由于諸如不充分或污染的芯片附著材料，分層或空隙等原因引起的。Sentris熱工具（如 圖像序列）可于評(píng)估樣品由內(nèi)到外的熱量傳遞過(guò)程，以便確定管芯接的完整性。
OPTOTHERM Sentris 熱射顯微鏡系統(tǒng)為一臺(tái)專(zhuān)為缺陷定位的系統(tǒng)，專(zhuān)為子產(chǎn)品FA設(shè)計(jì)，通過(guò)特別的LOCK-IN術(shù)，使LWIR鏡頭，仍能將將溫度分辨率升到0.001℃（1mK），同時(shí)光學(xué)分辨率{zg}達(dá)到5um,尤其其系統(tǒng)經(jīng)過(guò)多年的優(yōu)化，具有非常易和實(shí)，以下是OPTOTHERM Sentris 熱射顯微鏡系統(tǒng)過(guò)程的說(shuō)明視頻
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紅外熱成像顯微鏡
隨著子器件的不斷縮小，熱器和熱耗散變得越來(lái)越重要。微型熱顯微鏡可以測(cè)量并顯示溫度分布的半導(dǎo)體器件的表面，使熱點(diǎn)和熱梯度可顯示缺損位置，通常導(dǎo)致效率下降和早期故障的速檢測(cè)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
檢測(cè)芯片的熱點(diǎn)和缺陷
子元件和路板故障斷
測(cè)量結(jié)溫
甄別芯片鍵缺陷
測(cè)量熱阻封裝
應(yīng)
激光二極管性能和失效
20微/像素固定焦距
50度廣角聚焦鏡頭
320*240非冷測(cè)器
30幀/秒拍攝和顯示速度
0—300攝氏度測(cè)量范圍
室溫測(cè)量
便于使——1分鐘安裝測(cè)量待命
紅外熱成像配
了一廣泛的工具
幫助客戶(hù)非常容易而速獲取溫度息。
實(shí)時(shí)的帶狀圖、拍攝及回放序列
不同視角和建設(shè)性的數(shù)據(jù)手段
熱點(diǎn)及缺陷鏈接方法
infrasight MI的紅外攝像機(jī)的靈敏度高結(jié)先進(jìn)的降噪和圖像增強(qiáng)算法檢測(cè)和定位的熱點(diǎn)在半導(dǎo)體器件消耗小于1毫瓦的功率和升高溫度，表現(xiàn)只有0.05攝氏度。短時(shí)間試驗(yàn)中，設(shè)備通常是的5到10秒。I/O模塊使{zd0}功耗是與測(cè)試同步。測(cè)試平均阻低于一歐姆短路檢測(cè)。因?yàn)榈妥瓒搪废В挥猩倭康暮蜔幔幌盗械臏y(cè)試可以一起平均高測(cè)試靈敏度。動(dòng)停止功能I/O模塊繼器動(dòng)切斷源，設(shè)備/板為一個(gè)預(yù)先定義的閾值以的短溫度升高。
這種安全功能可以幫助防止設(shè)備/板損壞，同時(shí)定位時(shí)間。微量可于測(cè)量功能的器件結(jié)溫。為了準(zhǔn)確測(cè)量結(jié)溫，一個(gè)模具的表面射率的地圖必須首先被創(chuàng)建。該裝置是安裝在溫階段控在均勻的溫度。然后計(jì)算thermalyze的表面，適于熱圖像糾正射率的變化在死像素的射率的地圖像素。測(cè)量結(jié)溫，設(shè)備，{zg}溫度區(qū)域內(nèi)圍交界處測(cè)量。
顯微熱成像術(shù)參數(shù)_optotherm顯微熱成像-立特為智能一，它是產(chǎn)品可靠穩(wěn)定運(yùn)的，也是產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)熱管理研人員論的重點(diǎn)。做產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)需要統(tǒng)籌照顧不同市主體的需求，在性能指標(biāo)和綜成本之間達(dá)到平衡。靈活使紅外熱，顯微熱成像術(shù)參數(shù)_optotherm顯微熱成像-立特為智能此時(shí)進(jìn)非均勻校正，校正效果會(huì)變差。表現(xiàn)為校正后紅外成像效果變差，有很強(qiáng)的非均勻性。熱像儀最早是一|的產(chǎn)品，在漸漸轉(zhuǎn)變?yōu)槊褚院螅蠖棘F(xiàn)它的強(qiáng)大之處，可，顯微熱成像術(shù)參數(shù)_optotherm顯微熱成像-立特為智能其實(shí)還是隨處可見(jiàn)的。紅外成像儀雖然是一高科產(chǎn)品，但是它的操并不是很復(fù)雜，簡(jiǎn)的指導(dǎo)過(guò)后就可以掌握本的操了。但是為子產(chǎn)品，它需要怎么養(yǎng)你知道嗎？，顯微熱成像術(shù)參數(shù)_optotherm顯微熱成像-立特為智能性導(dǎo)熱材料
