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關鍵詞：  Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1. 它的應非常廣泛，去封裝的芯片，未去封裝的芯片，容，FPC,甚小尺寸的路板（PCB、PCBA）,這也就讓你可以在樣品的不同階段都可以使thermal術進，如下圖示例，樣品路板漏定位到某QFN封裝器件漏，將該器件拆下后現漏善，該器件焊引線來，未封定位為某引腳，封后針再做，進一步確認為晶圓某引線位置漏導致，如有需要可接著做SEM,FIB等。

未封器件

封器件

2. 它能測的半導體缺陷也非常廣泛，微安級漏，低阻抗短路，ES擊傷，閂效應點，屬層部短路等等，而容的漏和短路點定位，FPC,PCB,PCBA的漏，微短路等也能夠jq定位

lock-in相

封芯片漏

GAN-SIC器件

3，它是無損：為日常的失效，往往樣品量稀少，這就要求失效術{zh0}是無損的，而于某些例如陶瓷容和FPC的缺陷，雖然測能測存在缺陷，但是具體缺陷位置，市的無損如XRAY或超聲波，卻很難進定位，只能通過樣品進破壞性切片，且只能隨機挑選位置，而通過Thermal 術，你需要的只是給樣品，就可以述兩種缺陷進定位

FPC缺陷

容缺陷

4,相熱成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：相術，將溫度分辨率高到0.001℃，5um分辨率鏡頭，可以測uA級漏流和微短路缺陷，遠由于傳統熱成像及液晶熱點測法（0.1℃分辨率，mA級漏流熱點）

5，系統能夠測量芯片等微觀器件的溫度分布，了一種速測熱點和熱梯度的有效手段，熱分布不僅能顯示缺陷的位置，在半導體領域

在集成路操期間，內部結加熱導致接處的熱量集中。器件中的峰值溫度處于接處本身，并且熱從接部向外傳導到封裝中。因此，器件操期間的jq結溫測量是熱表征的組成部分。

芯片附著缺陷可能是由于諸如不充分或污染的芯片附著材料，分層或空隙等原因引起的。Sentris熱工具（如 圖像序列）可于評估樣品由內到外的熱量傳遞過程，以便確定管芯接的完整性。

OPTOTHERM Sentris 熱射顯微鏡系統為一臺專為缺陷定位的系統，專為子產品FA設計，通過特別的LOCK-IN術，使LWIR鏡頭，仍能將將溫度分辨率升到0.001℃（1mK），同時光學分辨率{zg}達到5um,尤其其系統經過多年的優化，具有非常易和實，以下是OPTOTHERM Sentris 熱射顯微鏡系統過程的說明視頻

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited ‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)為Optotherm公司中國表（獨理），在深圳設立optotherm紅外熱應實驗室，負責該設備的演示和售，如有相關應，可免費評估測試。

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紅外熱成像儀（熱成像儀或紅外熱成像儀）是通過非接觸測紅外能量（熱量），并將其轉換為號，進而在顯示器成熱圖像和溫度值，并可以溫度值進計算的一種檢測設備。
1.根據熱像儀分測原理可以分為光子測和熱測兩種
熱成像儀有光子測和熱測兩種不同的原理。前者主要是光子在半導體材料產的效應進成像，敏感度高，但測器本身的溫度會其產影響，因而需要降溫。熱測器是指測元件吸收入射的紅外輻射能量而引起溫升，在此礎借助各種物理效應把溫升轉變成量的一種測器。敏感度不如前者但是無需冷。
由于熱測器是輻射引起物體的溫升效應，因此，它任何波長的輻射都有響應，所以稱熱測器為無選擇性測器，這是它同光子測器的一大差別。熱測器的展比光子測器早，但如今一些光子測器的測率已接近背景限，而熱測器的測率離背景噪聲限還有很大差距。
2.根據熱像儀工的波段可以分為長波、短波、中波紅外熱像儀
還根據熱成像儀的工波段、所使的感光材料進分類。常見熱成像儀工在3到5微或8到12微，一般把8-12微稱為長波段紅外熱像儀，3-5微稱為短波紅外熱像儀，5-8微是中波紅外熱像儀，這些都各有各的優缺點，常感光材料則有硫化鉛、硒化鉛、硫化錮、硫錫鉛、硫鎘、摻雜儲和摻雜硅等。一般來說冷型的紅外熱像儀采的硫錫鉛、硫鎘等，非冷的紅外熱像儀采的是多晶硅，氧化釩等。
3.根據感光元件數量和運動方式，則有機械掃描、凝視成像型等。
4.根據是否測溫紅外熱像儀又分為成像型和測溫型，一般來說現在市面測溫型的紅外熱像儀價格比成像型的價格高一些。成像型的紅外熱像儀畫面表現為溫度分布，但是并不具備測溫的功能。
Optotherm IS640相熱成像價格-立特為智能貨商術培訓和支持。相比于以的那些參數的好壞，個人認為最重要的是售后，售后好的話，即便是產品相差一點也沒關系，起來也不會很心。但是如果售后都不好，Optotherm IS640相熱成像價格-立特為智能物體處于等溫狀態時，它射的能量和吸收的能量是相同的。因此，吸收率=射率。以公式變為：射率+射率={bfb}還可以表述為：射率={bfb}-射率因此，，Optotherm IS640相熱成像價格-立特為智能是否會影響準確測量？下雨本身測量精度影響不大，但被測物體表面附著