厚度計不同于膜厚計。測厚儀屬于厚度計的分類，也就是說，測厚儀是測厚儀的老板。我們還可以了解厚度計和厚度計的一些概念。

測厚儀按原理分為：激光測厚儀、超聲波測厚儀、X射線測厚儀、壓力計、電解測厚儀和機械接觸式測厚儀。

測厚儀的原理：超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當通過實物探頭超聲波脈沖進行測試接口，脈沖被反射回探頭，通過超聲波在材料中傳播的時間的測量來確定被測材料的厚度。利用這種原理可以測量各種能使超聲波以恒定速度傳播的材料。

渦流測量原理

高頻交流信號在探頭線圈中產生電磁場。當探針靠近導體時，形成渦流。探針越靠近導電基底，渦流越大，反射電阻越大。這種反饋作用表示探頭與導電基板之間的距離，即導電基板上非導電涂層的厚度。由于這種探頭專門測量非磁性金屬基體上鍍層的厚度，通常稱為非磁性探針。非磁性探頭采用高頻材料制作線圈鐵芯，如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理相比，主要區別是探頭不同，信號頻率不同，信號大小與尺度的關系不同。像磁感應測厚儀、渦流測厚儀也達到0.1um分辨率，允許1%的誤差和高水平10mm。

測厚儀采用渦流原理，可對航天飛機、車輛、家用電器、鋁合金門窗等鋁制品、塑料涂層、陽極氧化膜等進行測量。涂層材料具有一定的導電性。它也可以通過校準測量，但它需要至少3-5倍的導電率比這兩種材料，如鍍鉻銅。雖然鋼鐵基體也是導電體，但磁場測量適合于此類任務。

當檢測各種非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。例如：鋁型材、鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁工件表面的陽極氧化層或涂層時，我們用鋁基測厚儀。

高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。